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是德推出多合一通用型PA测试软体套件-科技频道-金鱼财经网

[2021-02-20 23:18:11] 来源: 编辑:wangjia 点击量:
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导读: 是德科技(Keysight Technologies)宣布推出N7614B Signal Studio for Power Amplifier测试软体套件,支援波峰因数缩减(CFR)、封包追踪(ET

是德科技(Keysight Technologies)宣布推出N7614B Signal Studio for Power Amplifier测试软体套件,支援波峰因数缩减(CFR)、封包追踪(ET)以及数位预失真(DPD)等多项技术。

台湾是德科技总经理张志铭表示,功率放大器(PA)测试是行动装置研发与制造过程中的关键环节。然而,为了改善PA的节能效率,业界不断推出波封追踪等新技术,使得这项测试变得极其复杂。使用市面上多数PA测试解决方案时,工程师须另行购买新的测试设备,并产生自订的RF测试讯号。相较之下,N7614B为更灵活、经济有效的测试解决方案,让工程师能使用现有的测试设备,针对不同晶片组厂商的PA,执行ET和DPD测试。

新软体套件支援是德所有的通用型MXG、EXG和ESG向量讯号产生器;PXA、MXA和EXA讯号分析仪;以及33522B和33622A任意波形产生器;同时支援应用程式介面(API)程式撰写,因此可轻易整合入客制的PA测试系统。

N7614B软体可灵活地与I/Q波形介接,不论是Signal Studio产生的波形,或是客户提供的MATLAB波形。工程师可在测试过程中,将这些波形输入PA,以便进行量测。接着工程师可根据量测结果,使用CFR、ET和DPD技术来调整PA,以提高其输出讯号的品质。

是德科技网址:www.keysight.com

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是德推出多合一通用型PA测试软体套件

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