AD
美商国家仪器(NI)推出半导体测试系统(STS) 系列。基于 PXI 架构的 STS 自动化测试系统针对半导体生产测试环境的 PXI 模组，有助于降低 RF 和混合式讯号装置的测试成本。
相较于传统的半导体自动化测试设备(ATE)， STS 先期使用者证实新系统有助于降低生产成本、提高产能，而且还可透过相同的硬体和软体工具同时执行特性测试与生产作业，从而快速设立资料关联并缩短上市时间。
不同于传统 ATE 的封闭式架构，STS 具有开放式的模组化架构，可协助工程师运用先进的 PXI 仪器。这对 RF 和混合式讯号测试而言尤其重要，因为传统 ATE 的测试范围通常无法满足最新半导体技术的需求。
STS 搭载 TestStand 测试管理软体和 LabVIEW 系统设计软体，针对半导体生产环境提供了丰富的功能组合，包含可客制化的作业介面、分类机/针测机整合、装置为主的程式设计和针脚-通道配置、标准测试资料格式报表制作、整合式多地点支援等等。有了这些功能，工程师即可迅速开发测试程式、加以除错并完成部署，缩短整体的上市时间。此外 STS 还配备了全封闭式的「零占用空间」测试头、标准衔接与连结机构，可立即整合至半导体生产测试单元。
STS 系列提供三种不同的机型：T1、T2、T4，分别容纳了 1、2、4 个 PXI 机箱。这些尺寸选项，再加上所有 STS 机型通用的软体、仪控和互连机构，可协助工程师充分满足不同的针脚和地点数量需求。此外，便于扩充的 STS 还可以部署至特性测试甚至是生产环境，藉此最佳化成本效益、大幅简化设立资料关联的程式，进而缩短上市时间。
为了协助客户顺利达成目标，NI 提供丰富的教育训练、产品与服务，同时还有全球 NI 工程专家和 NI 联盟夥伴的强力支援。
