测试设备大厂爱德万测试(Advantest)将推出射频IC应用测试模组,预计第2季开始出货。
爱德万测试推出两套测试模组,因应手机与WLAN装置内、支援802.11ac及LTE-Advanced行动通讯标准的射频IC测试需求。
爱德万表示,先进可携式电子产品面临各种调变挑战,测试模组采用向量信号产生(VSG)与向量信号分析 (VSA)软体,可提供80MHz宽调变频宽,结合波形产生软体与调变分析软体,支援802.11ac与LTE-Advanced通讯协定标准测试。
这两套模组相容于T2000平台,T2000平台具备可扩充架构,客户可随时调整设定并更换模组,因应各种测试需求,T2000测试系统已被整合元件制造厂(IDM)、IC设计公司、晶圆封测试代工厂等半导体设计制造大厂采用。